適用于測(cè)量ITO薄膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布以及傳送帶的電阻率分布。

特征
測(cè)量、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出可以自動(dòng)化。
（電路板尺寸*大可達(dá) 650 x 650 毫米。）
以三維圖形顯示[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]。
測(cè)量位置設(shè)置可以通過(guò)三種方式一鍵完成：網(wǎng)格輸入和順序輸入。
它可用于廣泛的用途，從研究和開(kāi)發(fā)到在線抽樣檢查。
有從低電阻率到高電阻率兩種類型。