要測(cè)量粉末的體積電阻率，只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設(shè)備中即可。
該裝置施加給定的壓力，同時(shí)測(cè)量粉末的電阻率和壓制密度。
該方法使得從新的角度分析粉末的特性成為可能。該設(shè)備可用于電子元件和材料的開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制。

特征
一旦您設(shè)置負(fù)載并按下開(kāi)始按鈕，所有測(cè)量將自動(dòng)完成。
新開(kāi)發(fā)的氣缸泵可以在低負(fù)載（0.01KN）下進(jìn)行測(cè)量。
粉末專用探頭（4 個(gè)探頭，環(huán)形電極）可讓您在任何壓力下在寬范圍內(nèi)測(cè)量粉末的電阻率。
各種粉末的形狀和粒度分布的差異可以從電阻率和壓制密度的壓力依賴性來(lái)理解。
采用探針裝置，可以輕松更換和清潔樣品。
測(cè)量目標(biāo)
金屬粉末、金屬氧化物、陶瓷等金屬材料；活性炭、炭黑、碳納米管、石墨、石墨烯等碳材料。
二次電池電極、電容器、EV電機(jī)、線圈等電子部件材料
ITO粉體等薄膜原材料、導(dǎo)電漿料等電路板材料
墨粉相關(guān)的磁性材料，例如鐵氧體