NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710
NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710
NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710
NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710
目的
Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，在研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域，越來越需要能夠輕松、快速、日益嚴(yán)格、高精度地管理材料。其中，電阻率（表面、體積、電導(dǎo)率）是表示材料狀態(tài)和性質(zhì)的指標(biāo)。 Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數(shù)輕松準(zhǔn)確地測量電阻率的設(shè)備。
該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法，可以使用各種探頭測量導(dǎo)電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。
與傳統(tǒng)的4端子法不同，無需為測量對象準(zhǔn)備電極，使用本公司提供的各種4點(diǎn)探頭即可一鍵測量電阻率。
主要測量目標(biāo)
■導(dǎo)電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導(dǎo)電橡膠、
導(dǎo)電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。
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特征
可以隨時(shí)隨地以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率、體積電阻率（比電阻）和電導(dǎo)率。
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與Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，測量范圍從 10 -4擴(kuò)大至 10 7 Ω
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通過改變電流方向可以測量硅片
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恒定電流可變功能（可使用微小電流進(jìn)行樣品測量）
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可輸出2000個(gè)測量結(jié)果至USB存儲器
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通過觸摸屏提高操作性
規(guī)格
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測量方法
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恒流施加法/四點(diǎn)探針法
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數(shù)據(jù)顯示
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640 x 480 點(diǎn) 7.5 英寸全彩 TFT LCD 觸摸屏
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轉(zhuǎn)換器
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上、下限值可單獨(dú)設(shè)置
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探測
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專用探頭 ASR、LSR、ESR、PSR、QR、BSR、NSCR、AR、BR
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數(shù)據(jù)輸出
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USB存儲器
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電源
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AC85~264V 47~63Hz
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尺寸/重量
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W320 x D285 x H110mm（儲物箱打開時(shí)，W320 x D285 x H200mm） 約 2.4kg
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標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
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ASR 探頭，4 針探頭檢查器
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返回頂部
測量范圍和精度
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\
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恒流值
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1A
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100毫安
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10毫安
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1毫安
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100μA
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10μA
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測量 范圍
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10 -4
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±(2.0%+30dgt)
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10 -3
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±(2.0%+20dgt)
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±(2.0%+20dgt)
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10-2
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±(1.0%+5dgt)
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±(1.0%+5dgt)
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±(2.0%+20dgt)
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10-1
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±(1.0%+3dgt)
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±(1.0%+3dgt)
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±(1.0%+5dgt)
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±(2.0%+20dgt)
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10 0
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±(0.5%+3dgt)
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±(0.5%+3dgt)
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±(1.0%+5dgt)
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±(2.0%+20dgt)
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10 1
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±(0.5%+3dgt)
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±(0.5%+3dgt)
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±(1.0%+5dgt)
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±(2.0%+20dgt)
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\
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恒流值
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1毫安
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100μA
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10μA
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1微安
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0.1μA
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測量 范圍
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10 2
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±(0.5%+3dgt)
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±(0.5%+3dgt)
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±(1.0%+5dgt)
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±(2.0%+20dgt)
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10 3
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±(0.5%+3dgt)
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±(0.5%+3dgt)
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±(1.0%+5dgt)
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±(2.0%+20dgt)
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10 4
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±(0.5%+3dgt)
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±(0.5%+3dgt)
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±(1.0%+5dgt)
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10 5
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±(0.5%+3dgt)
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±(1.0%+3dgt)
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10 6
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±(1.0%+3dgt)
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10 7
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±(2.0%+5dgt)
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